低载流子密度拓扑绝缘体量子极限下的内尔斯台格效应平台
介观与纳米尺度物理
2026-05-05 v3 材料科学
强关联电子
摘要
内尔斯台格效应是由温度梯度诱导的横向电流,是揭示凝聚态新相的有力工具。我们发现低载流子密度拓扑绝缘体中存在内尔斯台格效应平台，这作为1D Weyl点在弱拓扑绝缘体量子极限下的特征。平台高度与掺杂密度成反比,这表明可工程化实现无限大的内尔斯效应。内尔斯台格平台也存在于强拓扑绝缘体中,位于最低莱斯坦带的底部。我们指出这些平台在以前的实验中被忽略了,并指出观察它们的实验条件。我们的结果可能激发更多利用异常内尔斯效应来识别凝聚态新相的研究。
引用
@article{arxiv.2409.07199,
title = {Nernst Plateau in the Quantum Limit of Low-Carrier-Density Topological Insulators},
author = {Peng-Lu Zhao and J. L. Zhang and Hai-Zhou Lu and Qian Niu},
journal= {arXiv preprint arXiv:2409.07199},
year = {2026}
}
备注
Published version. Main: 7 pages + 5 figures, Supplemental Material: 18 pages +5 figures