基于实验室规模装置的单色计算机断层成像:概念验证
仪器与探测器
2022-10-04 v1 材料科学
摘要
本文中,我们论证了基于常规 X 射线管光源的实验室规模 Johann 型 X 射线吸收谱仪实现高度单色全视场 X 射线近边吸收结构断层成像的可行性。在此概念验证中,通过使用嵌入元素 Se、NaSeO 与 NaSeO 的模型体,我们表明可利用吸收边衬度断层成像将不同氧化态 Se 的三维分布从模型体基质及彼此间映射并区分开来。所提方法允许使用低亮度 X 射线光源对毫米尺度样品进行化学形态学的体相分析,并为材料工程及包括生物与化学在内的诸多领域研究提供了一种新的分析工具。
引用
@article{arxiv.2210.00804,
title = {Monochromatic computed tomography using laboratory-scale setup: proof-of-concept},
author = {Ari-Pekka Honkanen and Simo Huotari},
journal= {arXiv preprint arXiv:2210.00804},
year = {2022}
}
备注
6 pages, 9 figures, submitted to journal