监测 SN 1987A X 射线遗迹的演化

我们报告了使用货拉亚 X 射线望远镜上的高级 CCD 成像光谱仪（ACIS）对 SN 1987A 遗迹进行监测计划的结果。在 AO2 期间进行了两次新的观测，使总计达到过去两年中第四次监测观测。期间，普林斯顿大学开发了用于校正“电荷传递效率不足（CTI）”的新技术，以及利用电荷扩散提供略优于 CCD 检测器像素大小的角分辨率技术。我们使用亚像素分辨率处理所有四次观测，以获得最高可能的角分辨率，并使用我们的 CTI 校正软件提供更可靠的光谱分析和通量估计。高角分辨率图像表明，X 射线亮条与光学斑点高度相关，主要集中在 $\la$1 keV 能量区间，而更高能量的光子则与射电图像高度吻合。我们的数据也提供了关于 X 射线遗迹径向膨胀率为 $5200 \pm 2100$ km s$^{-1}$ 的弱证据。X 射线通量在这 18 个月观测期间线性增加约 $\sim$60%。该谱图以广泛的原子发射线复合物为主，可用平行冲击模型拟合，电子温度为 $kT$ $\sim$ 2 $-$ 4 keV，后冲击电子密度为 $n_{e}$ $\sim$ 210 $-$ 420 cm$^{-3}$。2001 年 4 月的推断 0.5 $-$ 10 keV 能段亮度为 $\sim$1.3 $\times$ 10$^{35}$ ergs s$^{-1}$；截至该日期，我们仍未观察到中心点源的直接证据，其观察到的 2 $-$ 10 keV 能段亮度上限为 $L_{X}$ $\sim$ 5.5 $\times$ 10$^{33}$ ergs s$^{-1}$。