利用脉冲展宽反相器监测粒子通量与 LET 变化
仪器与探测器
2021-09-01 v1 系统与控制
系统与控制
摘要
本工作研究利用脉冲展宽反相器监测高能粒子的通量与线性能量转移（LET）变化。基本粒子探测器由采用 CMOS 技术设计的两个级联脉冲展宽（偏斜尺寸）反相器构成，所需敏感面积通过并联多个双反相器脉冲展宽单元并采用所需数目的并行阵列获得。粒子撞击以单粒子瞬态（SETs）形式被探测，该探测器提供 SET 计数率与 SET 脉冲宽度变化的信息，由此可确定粒子通量与 LET。所提方案的主要优势在于可使用纯数字处理逻辑感知 LET 变化。基于 IHP 130 nm 体硅 CMOS 技术的 SPICE 仿真表明，在 LET 从 1 到 100 MeVcm2mg-1 范围内，探测器输出的 SET 脉冲宽度变化了 550 ps。该方案旨在作为自适应多处理系统内的片上粒子探测器运行。
引用
@article{arxiv.2104.01202,
title = {Monitoring of Particle Flux and LET Variations with Pulse Stretching Inverters},
author = {Marko Andjelkovic and Junchao Chen and Aleksandar Simevski and Oliver Schrape and Milos Krstic and Rolf Kraemer},
journal= {arXiv preprint arXiv:2104.01202},
year = {2021}
}