活动区核心的 X 射线环与 EUV"苔藓"建模

活动区核心中环的软 X 射线强度以及相应的足点（或称"苔藓"，moss）在 EUV 波段观测到的强度在数小时的观测中保持稳定。这种辐射的稳定性促使许多人推测这些环中的加热也必须是稳定的，尽管尚未对观测到的 X 射线和 EUV 强度与流体动力学方程的稳态加热解进行直接比较。在本文中，我们进行了这些模拟，并在一个活动区核心中同时用稳态均匀加热模型化了 X 射线和 EUV 苔藓强度。为此，我们引入了一种新技术，利用测量的 EUV 足点强度来推断加热率，从而约束模型参数。我们发现，8% 的填充因子和随高度膨胀的环在两个 X 射线滤镜中与强度符合得最好，尽管模拟的 SXT Al12 强度是观测强度的 147%，而 SXT AlMg 强度是观测强度的 80%。根据该解，我们确定所需的加热率比例关系为 ${\bar{B}}^{0.29} L^{-0.95}$。最后，我们讨论了此类建模的未来潜力，例如利用密度测量完全约束填充因子的能力，及其局限性，例如需要使用势场外推来近似日冕场。