风化层 X 射线成像光谱仪 (REXIS) 预期性能建模
天体物理仪器与方法
2014-10-21 v3
摘要
OSIRIS-REx 是 NASA 新前沿计划中的第三艘航天器，计划于 2016 年发射。OSIRIS-REx 将环绕近地小行星 (101955) Bennu 运行，对其进行表征，并将小行星风化层样本返回地球。风化层 X 射线成像光谱仪 (REXIS) 是 OSIRIS-REx 上由麻省理工学院和哈佛大学学生设计制造的仪器。REXIS 旨在收集并成像由 Bennu 发出的太阳诱导荧光 X 射线，从而提供与小行星风化层元素组成及其表面特征分布相关的光谱信息。望远镜反射光谱表明 Bennu 属于 CI 或 CM 球粒陨石类比陨石类别，其原始性质强烈激发了对其的研究。然而，许多因素将影响 REXIS 所测 X 射线光谱的产生、测量和解释。这些因素包括：Bennu 的组成性质和异质性、随时间变化的太阳状态、X 射线探测器特性以及观测的几何参数。在本文中，我们将探讨这些变量如何影响 REXIS 测量 Bennu 表面成分的精度。通过对上述因素进行建模，我们限定了 REXIS 的预期性能及其最终将 Bennu 归类为类比陨石类别的能力。
引用
@article{arxiv.1410.3051,
title = {Modeling the Expected Performance of the REgolith X-ray Imaging Spectrometer (REXIS)},
author = {Niraj K. Inamdar and Richard P. Binzel and Jae Sub Hong and Branden Allen and Jonathan Grindlay and Rebecca A. Masterson},
journal= {arXiv preprint arXiv:1410.3051},
year = {2014}
}
备注
Presented at the SPIE Optics + Photonics Conference, 18 August 2014, San Diego, CA