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MLonMCU:支持快速重定目标的TinyML基准测试

机器学习 2024-07-08 v1

摘要

尽管存在许多将机器学习模型部署到微控制器上的方法,但对于给定应用,选择框架与目标的最优组合并非易事。因此,自动化端到端基准测试流程在当今具有高度相关性。本文提出一种称为MLonMCU的工具,并通过在少量时间内以大量配置轻松基准测试最先进的TinyML框架TFLite for Microcontrollers与TVM,展示了该工具。

关键词

引用

@article{arxiv.2306.08951,
  title  = {MLonMCU: TinyML Benchmarking with Fast Retargeting},
  author = {Philipp van Kempen and Rafael Stahl and Daniel Mueller-Gritschneder and Ulf Schlichtmann},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2306.08951},
  year   = {2024}
}

备注

CODAI 2022 Workshop - Embedded System Week (ESWeek)