利用纠缠见证的最小层析成像
量子物理
2015-05-13 v1
摘要
我们引入了信息完备的测量，其结果是纠缠见证，从而回答了需要测量多少个见证才能判断任意态是否纠缠的问题：与态空间的维度一样多。优化的基于见证的测量可以在高维希尔伯特空间中提供相对于见证效率的指数级改进，但代价是层析效率的降低。我们描述了一种系统性的构造方法，并以两个量子比特为例说明了该问题。
引用
@article{arxiv.0906.3985,
title = {Minimal tomography with entanglement witnesses},
author = {Huangjun Zhu and Yong Siah Teo and Berthold-Georg Englert},
journal= {arXiv preprint arXiv:0906.3985},
year = {2015}
}
备注
5 pages, 1 figure