低温下 TeO2 单晶的微波研究
材料科学
2026-07-09 v1 应用物理
仪器与探测器
摘要
我们利用回音壁模式分析表征了低温下 TeO 单晶的微波介电性质,并将其损耗性能与其他低损耗介电材料进行了比较。将有限元建模与室温、4 K 和 20 mK 下的测量相结合,开发了精确的低温模拟并提取了各向异性介电常数,得到 和 。损耗测量显示品质因数高达 ,最小损耗角正切接近 ,使 TeO 成为低温微波应用中有前途的低损耗介电材料之一。电子自旋共振光谱进一步表明了干净的自旋环境,同时识别出了与已知晶体性质相符的不同自旋系统。
引用
@article{arxiv.2607.08668,
title = {Microwave Studies of Single Crystal TeO2 at Cryogenic Temperatures},
author = {Timothy Holt and Maxim Goryachev and William Campbell and Michael E. Tobar},
journal= {arXiv preprint arXiv:2607.08668},
year = {2026}
}
备注
10 pafes, 7 figures