低阶有理面处电子温度展平导致的微撕裂湍流饱和
等离子体物理
2024-09-17 v4
摘要
微撕裂不稳定性是高- 托卡马克中湍流输运的主要来源之一。这些模式在低阶有理磁力线处导致非常局域化的输运，我们表明这些有理面处局域电子温度梯度的展平在设定微撕裂湍流的饱和通量水平中起重要作用。该过程关键依赖于有理面的密度，从而依赖于系统尺寸，并对现有托卡马克和模拟典型系统尺寸给出了比陀螺玻姆（gyro-Bohm）更差的输运标度。
引用
@article{arxiv.2207.09211,
title = {Microtearing turbulence saturation via electron temperature flattening at low-order rational surfaces},
author = {Ajay C. J. and Ben McMillan and M. J. Pueschel},
journal= {arXiv preprint arXiv:2207.09211},
year = {2024}
}