利用 X 射线衍射线形分析对辐照钛及 Ti-5%Ta-2%Nb 中晶格缺陷的微观结构研究
材料科学
2007-05-23 v1
摘要
利用基于不同模型的方法，通过 X 射线衍射线形分析，将钛和 Ti-5%Ta-2%Nb（经 116 MeV O5+ 离子辐照）的平均晶畴尺寸、特定晶向下的有效晶畴尺寸以及晶畴内的微应变等微观结构参数表征为剂量的函数。同时还从分析中估算了位错密度和层错概率。分析表明，与未辐照样品相比，平均晶畴尺寸随剂量显著减小。辐照样品的位错密度估计值显著增加，发现比未辐照样品高出一个数量级。然而，位错密度随剂量的增加而趋于饱和。即使辐照剂量增加，形变（层错）概率依然可以忽略不计。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0512644,
title = {Microstructural studies on lattice imperfections in irradiated Titanium and Ti-5%Ta-2%Nb by X-Ray Diffraction Line Profile Analysis},
author = {P. Mukherjee and A. Sarkar and P. Barat and Baldev Raj and U. Kamachi Mudali},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0512644},
year = {2007}
}