约瑟夫森电路中低频磁通噪声的微观起源
介观与纳米尺度物理
2009-11-13 v1
摘要
我们分析了数据并讨论了其对超导电路中低频磁通噪声微观起源的启示。我们认为，这种噪声是由超导体 - 绝缘体边界处的自旋产生的，其动力学源于 RKKY 相互作用。我们表明，该机制解释了噪声的尺寸无关性、大型和小型 SQUID 中报道的谱的不同频率依赖性，并给出了现实参数下的正确强度。
引用
@article{arxiv.0712.2834,
title = {Microscopic origin of low frequency flux noise in Josephson circuits},
author = {Lara Faoro and Lev B. Ioffe},
journal= {arXiv preprint arXiv:0712.2834},
year = {2009}
}
备注
4 pages, no figures