Fe K$\alpha$ 线与X射线连续光的微透镜效应

对三个引力透镜QSO（MG J0414+0534、QSO 2237+0305、H1413+117）中观察到的Fe K$\alpha$ 线增强现象进行解释，即使没有观察到等效的X射线连续光放大。为解释这些观测，我们首先研究了由标准相对论性吸积盘产生的直线折线交叉所引起的微透镜效应。采用射线追迹方法分析磁盘发射，考虑Schwarzschild和Kerr度。当发射分离为两个区域（Fe K$\alpha$ 线对应的内盘和对应连续光的外环，或反之）时，我们发现只有在有限时间间隔内，才会出现不显著放大X射线连续光的Fe K$\alpha$ 线增强事件。若监测完整的微透镜事件，预计会观察到连续光放大。其次，我们研究了更真实的放大由折线放大图案引起的情况。在这种情况下，如果Fe K$\alpha$ 线发射自吸积盘的最内层，而连续光发射自更大的区域，我们能够充分解释观测结果。我们还研究了微透镜的色散效应，发现吸积盘温度径向分布结合微透镜本身，可在质量极小的微透镜中诱导约30%的波长相关变异。所有这些结果表明，X射线监测引力透镜是研究AGN吸积盘内层结构的理想方法。