类星体宽发射线的微引力透镜效应：对宽线区尺寸的约束
宇宙学与河外天体物理
2015-06-05 v2
摘要
我们测量了 16 个引力透镜中 18 对类星体图像之间宽发射线的差分微引力透镜效应。我们发现，高电离谱线（如 CIV）比低电离谱线受到更强的微引力透镜效应，这表明高电离谱线发射区更为致密。如果我们对微引力透镜放大率的分布进行统计建模，我们得到高电离和低电离谱线的宽线区半径估计值分别为 24 (-15/+22) 和 55 (-35/+150) 光天（90% 置信度）。当根据类星体光度划分样本时，我们发现光度更高的类星体其谱线发射区更大，其斜率与光致电离模型预期的标度关系一致。我们的估计值也与本地反响映射研究的结果吻合良好。
引用
@article{arxiv.1207.2042,
title = {Microlensing of Quasar Broad Emission Lines: Constraints on Broad Line Region Size},
author = {E. Guerras and E. Mediavilla and J. Jimenez-Vicente and C. S. Kochanek and J. A. Muñoz and E. Falco and V. Motta},
journal= {arXiv preprint arXiv:1207.2042},
year = {2015}
}