通过测量偏折角来探测微透镜事件

微透镜事件如今正通过监控大量潜在源的光度并测量图像的合成放大而被定期检测到。这种现象也可以使用干涉测量的高精度光学测量直接检测。相对于 $10\mu as$ 的相对测量精度在可预见的未来可能实现。可以通过对一颗拥有小角度分离的背景星的高精度光学测量来测量引力偏折。这种测量程序将用于独立的原因：从角度运动发现围绕其运行的星系周围的行星；以及测量双星系统的视差、视差和轨道。我们讨论了通过光学测量引力偏折的三个应用：测量被监控亮星的质量；测量围绕亮星的棕色矿星或巨型行星的质量；以及检测由与两颗星的视线路径附近的无关天体造成的微透镜事件。我们讨论了通过此程序可以测量的星体数量。我们还给出了由无关天体（可能是星体、棕色矿星或其他占据暗物质的紧凑天体）造成的预期微透镜事件数的表达式，这些天体可能位于 halo 或盘中。