微引力透镜作为银河系结构的探针：微引力透镜光学深度研究二十年
星系天体物理
2010-08-24 v2 宇宙学与河外天体物理
广义相对论与量子宇宙学
摘要
微引力透镜如今是一种非常流行的观测天文技术。通过这一效应可开展的研究范围从暗物质问题到搜寻太阳系外行星。本综述将描述通过监测大量恒星样本以搜寻微引力透镜效应并确定光学深度的技术。将讨论已发表结果对银河系结构及其暗物质组分认知的影响。还将详细阐述当前研究项目的困难与局限，以及微引力透镜光学深度技术作为银河系结构探针的前景。
引用
@article{arxiv.1001.2707,
title = {Microlensing as a probe of the Galactic structure; 20 years of microlensing optical depth studies},
author = {Marc Moniez},
journal= {arXiv preprint arXiv:1001.2707},
year = {2010}
}
备注
Accepted for publication in General Relativity and Gravitation. General Relativity and Gravitation in press (2010) 00