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ILC 中基于小角 Bhabha 散射的综合亮度测量制度要求

高能物理 - 实验 2024-12-25 v4 仪器与探测器

摘要

对未来 Higgs 工厂(包括 ILC)的综合亮度 L\mathcal{L} 的精确测量对于樟脑交叉截面测量尤其是 Z 极点处的线形测量至关重要。由于尚无关于 ILC 中亮度不确定性来源于测量效应的最新估计,本文综述了针对预见 ILC 中心质能为 91.2 GeV、250 GeV、500 GeV 和 1 TeV 时的综合亮度 L\mathcal{L} 目标精度,基于小角 Bhabha 散射的测度要求。

关键词

引用

@article{arxiv.2407.03024,
  title  = {Metrology requirements for the integrated luminosity measurement using small angle Bhabha scattering at ILC},
  author = {Ivan Smiljanić and Ivanka Božović and Goran Kačarević and Mirko Radulović and Jasna Stevanović},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2407.03024},
  year   = {2024}
}

备注

17 pages, 13 figures, draft