ILC 中基于小角 Bhabha 散射的综合亮度测量制度要求
高能物理 - 实验
2024-12-25 v4 仪器与探测器
摘要
对未来 Higgs 工厂(包括 ILC)的综合亮度 的精确测量对于樟脑交叉截面测量尤其是 Z 极点处的线形测量至关重要。由于尚无关于 ILC 中亮度不确定性来源于测量效应的最新估计,本文综述了针对预见 ILC 中心质能为 91.2 GeV、250 GeV、500 GeV 和 1 TeV 时的综合亮度 目标精度,基于小角 Bhabha 散射的测度要求。
关键词
引用
@article{arxiv.2407.03024,
title = {Metrology requirements for the integrated luminosity measurement using small angle Bhabha scattering at ILC},
author = {Ivan Smiljanić and Ivanka Božović and Goran Kačarević and Mirko Radulović and Jasna Stevanović},
journal= {arXiv preprint arXiv:2407.03024},
year = {2024}
}
备注
17 pages, 13 figures, draft