Meta-instrument：用于近场光学成像显微镜的高速定位与跟踪平台
仪器与探测器
2016-08-16 v1
摘要
高分辨率和高通量成像通常是相互排斥的。Meta-instrument 将纳米天线、超振荡透镜和超透镜等高分辨率光学概念与微型光机电平台相结合，用于在数十纳米量级的透镜 - 样品间距下对光学元件进行精确且高速的定位。此类平台是将近场光学成像技术推向工业应用的必要发展。为此，我们提出了两种设计和原理验证仪器，旨在实现 100 kHz 带宽下的亚纳米级定位精度。
引用
@article{arxiv.1608.04281,
title = {Meta-instrument: high speed positioning and tracking platform for near-field optical imaging microscopes},
author = {R. J. F. Bijster and R. W. Herfst and J. P. F. Spierdijk and A. Dekker and W. A. Klop and G. F. IJ. Kramer and L. K. Cheng and R. A. J. Hagen and H. Sadeghian},
journal= {arXiv preprint arXiv:1608.04281},
year = {2016}
}
备注
22 pages, 10 figures, submitted to Review of Scientific Instruments