利用落射荧光光测量散射介质的传输矩阵

有若干种在散射介质后聚焦光的方法，但极少使用荧光光作为反馈，或可在无法接触散射体远端侧的情况下使用。在所有波前整形技术中，恢复散射材料的传输矩阵是唯一能在单次测量后实现多点聚焦的方法。此处我们提出一种利用荧光光作为反馈且无需接触远端侧来恢复散射体传输矩阵的方法。该方法的优势在于，它允许在单次矩阵测量后将光聚焦到整个视场而不影响样品，使其适用于反射式落射照明几何显微镜。