测量短寿命态的(n,f)截面
核实验
2012-02-24 v2
摘要
为了检验裂变截面理论，理想的做法是测量同一元素同一同位素的同质异能态和基态的(n,f)截面。这将检验仅依赖于自旋和宇称的效应计算能力，而不会受到依赖于(Z,A)的效应的混淆。目前，在可以进行理论预测的MeV能量下，还没有成功测量过任何同位素的(n,f)截面。已有少数在热中子和冷中子能量下对U235m截面的测量。在这些能量下，截面预计由不可计算的共振主导，因此可能不是对理论预测的有用检验。我提出了测量具有裂变谱的1/2+ (26分钟)同质异能态U235m和1- (16小时)(比同质异能态寿命更短)的Am242gs对中子的(n,f)截面的方法。
引用
@article{arxiv.1003.4726,
title = {Measuring (n,f) cross-sections of short-lived states},
author = {J. I. Katz},
journal= {arXiv preprint arXiv:1003.4726},
year = {2012}
}
备注
28 pp., 4 figs, revised in response to referees' comments, additional details re sources and volatile Am organometallic compounds