在国际直线对撞机上通过电子-光子碰撞测量希格斯玻色子关联的轻子味破坏

我们研究了轻子味破坏的希格斯产生过程$e^-\gamma\to\ell^-\phi\;(\ell=\mu,\tau; \phi=H, A)$，以此作为在电子-光子对撞机上探测希格斯介导的轻子味破坏耦合的探针，其中$H$和$A$分别是双希格斯二重态模型中的额外CP偶和CP奇希格斯玻色子。在来自μ子和τ子稀有衰变当前数据的约束下，该截面可以显著增大。这将改善对有效轻子味破坏耦合常数的实验上限。此外，通过选择电子束极化，可以测量轻子味破坏希格斯耦合常数的手征性。