利用 CP 标记的 Bs 和 Bd 衰变干净地测量 γ 角

Adam F. Falk; Alexey A. Petrov

doi:10.1103/PhysRevLett.85.252

利用 CP 标记的 Bs 和 Bd 衰变干净地测量 γ 角

高能物理 - 唯象学 2010-11-23 v1

作者: Adam F. Falk , Alexey A. Petrov

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摘要

我们提出了一种利用 CP 标记的 Bs 衰变的部分衰变率来测量 CKM 相位 γ 的新方法。这样的实验可以在运行于 Upsilon(5S) 共振态的超高亮度对称 e+e- 对撞机上进行，在该对撞机上 Bs-Bsbar 态以确定的 CP 态产生。我们还讨论了在 Upsilon(4S) 上 Bd 系统中的 CP 标记，其中需要时间依赖的分析来补偿 Bd-Bdbar 混合中预期的大 CP 破坏。

关键词

CKM相位γ CP标记衰变 Bs介子 Bd介子正负电子对撞机

引用

@article{arxiv.hep-ph/0003321,
  title  = {Measuring gamma cleanly with CP-tagged Bs and Bd decays},
  author = {Adam F. Falk and Alexey A. Petrov},
  journal= {arXiv preprint arXiv:hep-ph/0003321},
  year   = {2010}
}