通过射频功率变化测量离子位移以补偿多余微运动
原子物理
2021-04-01 v2
摘要
我们展示了一种基于线性 Paul 陷阱中囚禁离子的精确测量方法，通过离子荧光成像测量径向平面内由杂散电场引起的离子囚禁位置位移，从而实现微运动最小化。径向平面内的位移量正比于杂散电场强度。因此，我们通过使用两种不同的径向囚禁频率并配合各种补偿电压组合，测量离子偏离平衡位置的位移来评估微运动补偿条件。该技术的残余电场不确定度达到几伏每米。此补偿技术不依赖于入射冷却激光的方向、失谐量及成像方向。因此，该方法适用于平面离子陷阱、限制激光传播角度的触笔离子陷阱，或用于传感与计量应用的微型化离子陷阱系统。
引用
@article{arxiv.2102.00788,
title = {Measurement of ion displacement via RF power variation for excess micromotion compensation},
author = {Ryoichi Saito and Kota Saito and Takashi Mukaiyama},
journal= {arXiv preprint arXiv:2102.00788},
year = {2021}
}
备注
7 pages, 5 figures