KLOE/KLOE-2 中的强子截面测量

$\sigma(e^+e^-\rightarrow \pi^+\pi^-)$ 截面的测量可用于确定 pion 形状因子 $| F_\pi |^2$ 以及两 pion 对 μ 子反常 $a_\mu$ 的贡献。利用 DAΦNE 处的 KLOE 探测器（Frascati φ-工厂）已进行了此类测量。本文将展示最近一次分析（KLOE12）与两次先前已发表分析（KLOE08、KLOE10）结合的初步结果。