模型氧化物界面原子尺度 STEM-EDS 成像中的测量误差
材料科学
2017-04-10 v2 介观与纳米尺度物理
摘要
随着经济型像差校正器的发展，复杂界面的分析型扫描透射电子显微镜（STEM）研究现已在全球实验室以高空间分辨率开展。能量色散 X 射线光谱（STEM-EDS）尤其受到欢迎，因为它能在宽电离能范围内进行元素成像。然而，原子级分辨数据的解释因束-样品相互作用而变得极为复杂，新手用户常常忽视这一点。本文描述了影响模型钙钛矿氧化物界面定量的实际因素——即样品厚度和电离边的选择。我们在不同厚度区域对同一样品的测量表明，界面轮廓可因光谱特征的不同而变化多达 2-5 个单胞。这一发现得到了多层法模拟的支持，模拟显示即使是完美突变的界面，其沿轴成像也表现出显著的离域化。较厚样品的定量因沟道效应至界面处较重原子位以及信号背景的增加而进一步复杂化。我们指出，必须极其小心地制备样品以最小化沟道效应，并认为从许多化学成像图中提取原子级分辨信息或许是不可能的。
引用
@article{arxiv.1610.03432,
title = {Measurement Error in Atomic-Scale STEM-EDS Mapping of a Model Oxide Interface},
author = {Steven R. Spurgeon and Yingge Du and Scott A. Chambers},
journal= {arXiv preprint arXiv:1610.03432},
year = {2017}
}
备注
12 pages, 2 figures; revised during peer-review