绘制绝对磁场并评估原子干涉重力仪中二次塞曼效应引起的系统误差
应用物理
2018-05-17 v2 原子物理
量子物理
摘要
精确评估由二次塞曼效应引起的系统误差，对于开发瞄准 ( ) 量级精度的原子干涉重力仪具有重要意义。本文报告了对基于拉曼光谱的磁场测量的实验研究，以及对重力测量原子干涉仪 (GAIN) 中由二次塞曼效应引起的系统误差的评估。我们讨论了依赖于拉曼持续时间和频率步长的磁场测量不确定度，给出了由矢量光移 (VLS) 和张量光移 (TLS) 引起的磁场测量偏移，并以 0.72 nT 的不确定度和 12.8 mm 的空间分辨率绘制了 GAIN 干涉仪腔室内的绝对磁场分布。我们将 GAIN 中由二次塞曼效应引起的重力测量误差评估为 。本文所示的方法对于精确绘制真空中的绝对磁场以及减少基于拉曼跃迁的精密测量（如原子干涉重力仪）中由二次塞曼效应引起的系统误差具有重要意义。
引用
@article{arxiv.1805.05159,
title = {Mapping the absolute magnetic field and evaluating the quadratic Zeeman effect induced systematic error in an atom interferometer gravimeter},
author = {Qing-Qing Hu and Christian Freier and Bastian Leykauf and Vladimir Schkolnik and Jun Yang and Markus Krutzik and Achim Peters},
journal= {arXiv preprint arXiv:1805.05159},
year = {2018}
}
备注
14 pages, 6 figures