泄漏到自旋-电荷纠缠双量子点中的马约拉纳模
介观与纳米尺度物理
2021-10-05 v1 强关联电子
摘要
在强电子关联 regime 中，从理论上研究了泄漏到自旋-电荷纠缠双量子点中的马约拉纳零能模的特征。所考虑的装置由两个电容耦合且连接外部触点并侧接宿主马约拉纳准粒子的拓扑超导线的量子点组成。我们表明，马约拉纳模的存在在 Kondo regime 的局域态密度中产生了独特特征。此外，它极大地改变了线性电导的栅极电压依赖性，导致分数化电导值。我们还分析了拓扑线有限长度的影响，并证明线两端马约拉纳模的非零重叠直接体现在与线耦合的量子点的局域态密度的局域极值中。计算借助数值重正化群方法进行。
引用
@article{arxiv.2110.01259,
title = {Majorana mode leaking into a spin-charge entangled double quantum dot},
author = {Piotr Majek and Ireneusz Weymann},
journal= {arXiv preprint arXiv:2110.01259},
year = {2021}
}
备注
12 pages, 10 figures