拓扑平庸自旋轨道耦合纳米线中无束缚态的类马约拉纳局域自旋密度

在自旋轨道耦合纳米线的拓扑相中，马约拉纳束缚态已知局域于纳米线边缘，并展现出垂直于磁场和自旋轨道场两者的自旋密度。通过研究暴露于均匀磁场且具不同自旋轨道耦合区域界面的纳米线，我们发现即使界面两侧均处于拓扑平庸相，甚至完全不存在束缚态时，正交自旋密度仍被钉扎在界面处。一个平庸束缚态可能额外出现在界面，特别是当自旋轨道耦合在界面两侧符号相反时。然而，它可被自旋轨道轮廓的平滑化或平行于自旋轨道场的磁场分量所破坏。相比之下，正交自旋密度在多种现实参数范围内持续存在。我们还表明，尽管体平衡自旋流的测量迄今难以实现，此类稳健的正交自旋密度峰或可提供检测界面间自旋流变化的方法。