非等向介质薄片引起的系统效应

面对微波频率下平坦等向介质薄片引起的仪器偏振问题。我们发现，尽管该介质具有等向性，但仍可通过传输入射各向异性漫射辐射或在热非均匀时发射来产生伪偏振。我们采用 Mueller 矩阵形式对通常用于射电天文学的各种材料引起的仪器偏振进行评估。作为应用，讨论了不同薄片置于 32 GHz 接收机前的效果。这些结果基于对其复介电常数的测量。我们评估，厚度为 0.33 cm 的 Teflon 薄片在传输 (< $2.6 \times 10^{-5}$) 和发射 (< $6 \times 10^{-7}$) 条件下引入的伪偏振可忽略不计，即使最小化泄漏 (< $10^{-8}$ 从 $Q$ 到 $U$ Stokes 参数，反之亦然) 和去偏振 ($\sim 1.3 \times 10^{-3}$)。