用于快中子能谱测量和成像应用的低余辉、高折射率液体闪烁体
核实验
2009-06-25 v1
摘要
对于高功率脉冲激光装置上的离子和中子能谱测量及成像应用，需要具有极低余辉的快液体闪烁体。此外，使用光纤（或液芯）毛细管阵列的中子成像要求闪烁材料具有高折射率。为此，我们研究了各种已知的荧光剂和溶剂混合物的组合，并分别用氮气或氧气进行富集。已知溶解的分子氧是一种高效的淬灭剂，能有效抑制荧光剂中三重态的布居，而三重态是导致余辉的主要原因。为了测量闪烁体的发光曲线，我们采用了时间相关单光子计数（TCSPC）技术，该技术具有在光强度上跨越几个数量级的高动态范围。本文概述了快闪烁体的应用，简要介绍了液体中的闪烁机制，描述了我们特定的TCSPC方法，并讨论了结果。
引用
@article{arxiv.0905.3985,
title = {Low-Afterglow, High-Refractive-Index Liquid Scintillators for Fast-Neutron Spectrometry and Imaging Applications},
author = {Ronald Lauck and Michal Brandis and Benjamin Bromberger and Volker Dangendorf and Mark B. Goldberg and Ilan Mor and Kai Tittelmeier and David Vartsky},
journal= {arXiv preprint arXiv:0905.3985},
year = {2009}
}
备注
5 pages, Contribution to SORMA WEST 2008. To be published in IEEE TNS, 2009