面向量子非高斯子光子统计的损耗抗性验证

量子非高斯子光态具有诸多基本特性，是量子技术众多应用的关键。然而，这些特征许多难以通过标准准则检测，因为受到光学损耗和探测器效率的限制。尽管光子统计信息未知，损耗对数据的校正仍然不可靠，尽管损耗可被精确测量。为此，我们采用一种利用量子非高斯见证器的损耗缓解验证技术，该技术将已知的光学损耗和探测器效率纳入其推导之中。这种方法使我们能够解决一个巨大的挑战，即实验性地表明单光子和光子对的无信号量子非高斯子态。