两量子比特系统的环路态制备与测量层析
量子物理
2018-07-11 v2
摘要
我们通过实验证明，环路态制备与测量（SPAM）层析能够检测两量子比特系统中的关联误差。我们将光子对制备在近似Werner态的状态中，该态可能纠缠也可能不纠缠。通过使用多种不同探测器设置进行测量，我们能够检测在不同位置执行的两次单量子比特测量之间的关联误差。除已知态的维数以及描述探测器的正算子值测度（POVM）的维数外，不对态制备或测量作任何假设。唯一所需的其他信息是实验测量的期望值，并对其进行自洽性分析。这表明环路SPAM层析是一种用于检测会降低多量子比特量子信息处理器性能的错误的有用技术。
引用
@article{arxiv.1806.06697,
title = {Loop State-preparation-and-measurement tomography of a two-qubit system},
author = {M. E. Feldman and G. K. Juul and S. J. Van Enk and M. Beck},
journal= {arXiv preprint arXiv:1806.06697},
year = {2018}
}
备注
6 pages, 3 figures. arXiv admin note: substantial text overlap with arXiv:1802.02526