(反)质子诱发反应中的轻介子发射

高能反质子在质子或原子核上诱发的反应有很大概率伴随几个介子的发射。通过探测一个或多个介子，可以观测有趣的现象并进行 QCD 检验。从高能(反)质子束共线发射硬π介子或矢量介子，可以类似于从电子发射硬光子的计算 \cite{Kuraev:2013izz}。这是在 QED 中一个著名的过程，称为“准实电子方法”(Quasi-Real Electron method)，其中入射粒子是电子，发射硬光子后留下一个“几乎在壳”的电子撞击靶 \cite{Baier:1973ms}。此过程被称为扫描入射能量的初态辐射 (Initial State Emission, ISR) 方法，在强子情形下可用于在类似运动学条件下产生不同种类的粒子。在质子-质子(反质子)碰撞中发射带电轻介子（$\pi$ 或 $\rho$ 介子）的情况下，该介子可在磁场中偏转并被探测。带电介子的共线发射（沿束流方向）可用于产生高能(反)中子束。这对于测量(反)质子与(反)中子从靶散射的截面差异非常有用，并可能为检验含反粒子的求和规则开辟道路。当入射粒子之一的能量损失使总能量降低到某个共振态的质量时，硬介子发射也能增强截面。截面可基于因子化公式计算，其中轻介子发射的概率乘以子过程的截面。文中还给出了中性和带电介子产生的多重数分布。