标量轻子夸克诱导的轻子味破坏的τ和μ衰变

我们表明标量轻子夸克的Yukawa耦合会产生显著的轻子味破坏。我们计算了轻标量轻子夸克对轻子味破坏衰变$\ell \to \ell_i \ell_j \bar{\ell}_j$和$\ell \rightarrow \ell^{\prime} \gamma$（其中i,j = e,$\mu$）分支比（Br）的贡献。我们讨论了影响这些衰变率的相关输入参数的作用，这些参数是Yukawa耦合（$h_{a\ell}$）（其中$a=u,c,t$）、轻标量质量$M_{S_{1}}$和混合角$\sin2\theta_{LQ}$。我们利用$(g-2)_\mu$、$\mu-e$转换和$\pi \to e \nu_e, \mu \nu_\mu$的实验限制来约束输入参数空间。我们预测$\tau \to \ell_i \ell_j \bar{\ell}_j$的分支比上限可以达到当前的实验上限。我们还表明，对于某些LQ参数的选择，可以同时容纳$\tau \to \ell_i \ell_j \bar{\ell}_j$和$\tau \to \ell\gamma$的分支比。