二维钨基片层材料$\mathrm{Cr_2Ge_2Te_6}$中的层呼吸拉曼模
材料科学
2025-11-18 v1 其他凝聚态物理
摘要
二维(2D)钨基片层材料(vdW)磁性材料已成为下一代磁电和自旋电子器件的关键材料，理解层数、晶格动力学和磁相互作用之间的关系至关重要。在本工作中，我们报告了在少层中观察到的层呼吸模(LBM)，这是一种具有厚度依赖电子、磁和光学性质的铁磁半导体，使用拉曼光谱作为层间耦合和晶格对称性的直接指纹。群论对称性分析确认CGT属于片层材料的非极性类别。随着层数(N)的增加，LBM频率的演化揭示出一种独特的软化趋势，这特征于厚片中恢复力减弱。通过拟合实验拉曼数据使用线性链模型(LCM)，我们量化提取了层间力常数()，从而衡量vdW层间耦合强度。
引用
@article{arxiv.2511.11852,
title = {Layer breathing Raman mode in two-dimensional van der Waals material $\mathrm{Cr_2Ge_2Te_6}$},
author = {Nilesh Choudhury and Sandeep and Neesha Yadav and Mayank Shukla and Pintu Das},
journal= {arXiv preprint arXiv:2511.11852},
year = {2025}
}