琼斯矩阵双光梳光谱偏振测量术

光谱偏振测量术（SP）是评估薄膜、光学材料和生物样品的有力工具，因为它可提供物体的偏振和光谱特性。然而，其性能常受机械偏振调制引起的机械不稳定性和有限数据采集速度的制约。基于SP与双光梳光谱术结合的双光梳光谱偏振测量术（DCSP）可在同时测量p和s偏振分量中光振幅与相位的光谱时，无需机械偏振调制即可获取输出光p和s偏振分量的振幅比和相位差的光谱。在本文中，我们将DCSP与具有不同偏振和时间延迟的偏振控制脉冲序列（PCPS）结合，以基于琼斯矩阵更详细地分析样品的偏振响应。我们通过在将入射光多路复用为多种偏振而非单一偏振的同时测量这些光谱，获得了样品作为波长函数的琼斯矩阵。这种琼斯矩阵DCSP（JM-DCSP）被应用于分析具有已知偏振特性的光学元件，其实验结果与理论值吻合良好，表明了所提方法的有效性。JM-DCSP将进一步拓展SP的应用范围。