喷注辐射半径

喷注辐射模式对于区分具有不同量子数的部分子至关重要。然而，它们也容易受到来自底事件、堆积效应以及相邻喷注辐射的各种污染。为了最大化区分能力，必须优化分析辐射模式时使用的喷注半径。我们引入了喷注辐射半径的概念，用以量化喷注辐射如何分布在喷注轴周围。我们研究了喷注辐射半径的颜色和动量依赖性，并讨论了两种应用：夸克 - 胶子区分和 $W$ 喷注标记。在这两种情况下，对于具有更高 $P_T$ 的喷注，更小的（子）喷注半径更为可取，尽管其机制不同：分别是 QCD 耦合常数的跑动和向色单态系统的 boost。我们提出了一种收缩锥 $W$ 喷注标记算法，以实现比先前方法更好的区分度。