噪声存储单元的迭代编程
信息论
2019-01-11 v1 math.IT
摘要
在本文中，我们研究一个最初由 Bunte 和 Lapidoth 提出的模型，该模型模拟存储单元的编程操作。在此范式下，我们假设单元被顺序且逐个地编程。编程过程被建模为通过信道的传输，同时可以读取单元状态以确定其编程是否成功，并在编程失败时对单元重新编程。重新编程单元可以降低误码率，但代价是增加总体编程时间，从而影响存储器的写入速度。迭代编程方案是一种指定对每个单元编程尝试次数的算法。给定编程信道以及对单元编程平均和最大尝试次数的约束，我们研究能最大化存储器中可靠存储比特数的编程方案。我们推广了 Bunte 和 Lapidoth 的结果，并在编程信道为 BSC、BEC 或 信道时研究该问题。对于 BSC 和 BEC，我们的分析还扩展到连续写入的错误概率不一定相同的情况。最后，我们还研究了一个由 DNA 分子合成过程所启发的相关模型。
引用
@article{arxiv.1901.03084,
title = {Iterative Programming of Noisy Memory Cells},
author = {Michal Horovitz and Eitan Yaakobi and Eyal En Gad and Jehoshua Bruck},
journal= {arXiv preprint arXiv:1901.03084},
year = {2019}
}
备注
10 pages, 2 figures