作为研究含$\bar{B} \to X_{s} \ell^{+}\ell^{-}$衰变方法的中子数外推

提出了一种重建含$\bar{B} \to X_{s} \ell^{+}\ell^{-}$衰变的新方法。该方法依赖同位旋对称性，将半含$X_{b}\to K^{+} \ell^{+}\ell^{-} X$特征外推至$B^{+}$和$B^{0}$衰变中的全含速率。我们研究了测量分支比及其他可观测量（如轻子普适性比值和$CP$不对称性）的可能性。作为概念验证，使用快速模拟将$X_{b}\to K^{+} \ell^{+}\ell^{-} X$特征与全含方法进行比较。可见若干实验优势，有潜力使含$\bar{B} \to X_{s} \ell^{+}\ell^{-}$衰变的测量在强子对撞机上可行。