离子跳跃运动作为电池材料研究中μ子扩散的背景

我们使用扩展的Kubo-Toyabe（KT）弛豫函数$G_z^{\rm EA}(t)$对离子扩散中的μ子自旋弛豫（$\mu$SR）进行了数值模拟，该函数包含了描述离子跳跃运动的Edwards-Anderson型自相关函数。使用传统KT函数$G_z^{\rm KT}(t;\Delta_{\rm KT},\nu_{\rm KT})$对生成的$\mu$SR谱进行分析（模拟先前的分析过程）表明，在先前关于离子扩散的$\mu$SR研究中经常观察到的，在特定温度$T^*$附近涨落率$\nu_{\rm KT}$的异常峰值以及$T^*$以上线宽$\Delta_{\rm KT}$的减小，源于随着温度升高，离子跳跃率$\nu_{\rm i}$相对于μ子跳跃率$\nu_\mu$的急剧增加。这表明，使用$G_z^{\rm EA}(t)$对过往数据进行更详细的重分析，对于正确评估$\nu_{\rm i}$和$\nu_\mu$是有用的。同时，这也表明，未显示此类异常的$\mu$SR结果几乎不包含关于离子扩散的信息。