利用 EXAFS 光谱学探讨超导中间 T RF 腔体中氧气扩散轮廓的研究与考量

中 T 处理的超导原型腔体（SRF）中氧气轮廓的筛选对于推断微观腔体晶格与腔体性能之间的物理关联——这一长期困扰加速器物理学家的问题——至关重要。本论文提供了对三个不同处理样品的氧气扩散轮廓分析：两个中 T 烘烤样品以及第三个采用标准 EuXFEL 配方。测量方法利用 EXAFS 光谱学，在德累斯顿的 DELTA 设施上完成。结果在噪声方面受到严重影响，使其实际用途有限。定性地，不能证明当前模型中轮廓的偏差，且未证明以前研究的结果。对实验分析进行了精确描述，对可能的解释进行了论述，并提供了关于误差估计以及可能的 EXAFS 模拟以进行未来尝试的理论考虑。指出在 PETRA III 设施上的重复测量是必要的。