利用 Murchison 宽场阵列的行星际闪烁研究 II：低频下亚角秒致密源的性质

我们报道了利用 Murchison 宽场阵列（MWA）进行宽场行星际闪烁（IPS）技术的首次天体物理应用。该强大技术使我们能够在大面积天区中识别并测量低频射电源中的亚角秒致密成分，而无需长基线干涉测量或电离层校准。我们呈现了对 30×30 平方度 MWA 视场在 162 MHz、0.5 秒时间分辨率的五分钟观测结果。在该视场中探测到的 2550 个连续谱源中，302 个（12%）显示出由 IPS 引起的快速涨落。我们发现至少 32% 的明亮低频射电源包含亚角秒致密成分，其贡献了总通量密度的 40% 以上。或许令人惊讶的是，峰谱射电源在我们样本中强闪烁的低频源中占主导人口。虽然伽马射线 AGN 通常是高频下致密的平谱射电源，我们视场中许多 Fermi 耀斑星的 162 MHz 性质与嵌入更延展低频辐射中的致密成分一致。我们视场中一个已知脉冲星的探测表明，宽场 IPS 技术已处于通过图像平面分析探测新脉冲星的灵敏度阈值，而将当前 MWA 灵敏度按 SKA-low 预期缩放意味着基于 IPS 的大型脉冲星搜索将可由 SKA 实现。SKA 的校准策略需要更好地了解低频下致密源的空间密度，而 IPS 观测现在可以提供。