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CEPC 上 $e^+e^-\to H(\gamma\gamma) Z$ 过程中干涉效应对希格斯质量测量的影响

高能物理 - 唯象学 2016-01-08 v1

摘要

作为希格斯工厂的高亮度环形正负电子对撞机(CEPC)将有助于希格斯质量的精确测量。在未来质心能量 246GeV246 {\rm GeV}e+ee^+e^- 对撞机上,针对伴随 Z 玻色子产生过程中的希格斯双光子衰变模式,我们仔细研究了信号-本底干涉效应。对于从 0.8GeV0.8 {\rm GeV}2GeV2 {\rm GeV} 的实验质量分辨率,质量偏移从约 20MeV20 {\rm MeV} 上升到 50MeV50 {\rm MeV}

关键词

引用

@article{arxiv.1505.06981,
  title  = {Interference effects on Higgs mass measurement in $e^+e^-\to H(\gamma\gamma) Z$ at CEPC},
  author = {Guang-Zhi Xu and Gang Li and Yi-Jie Li and Kui-Yong Liu and Yu-Jie Zhang},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1505.06981},
  year   = {2016}
}

备注

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