存在前景与关联连续谱发射时的强度映射
宇宙学与河外天体物理
2019-02-20 v1 星系天体物理
摘要
强度映射作为一种测量高红移典型星系中星际介质性质的方法已引起显著兴趣。强度映射测量表面亮度的统计随频率的变化，使其不仅对全部感兴趣谱线发射敏感，也对所有其他源的辐射敏感。大量努力已投入开发排斥前景污染的方法。此外，目标星系具有多种发射源，可使谱线亮度的解释复杂化。我们描述了联合估计关联连续谱发射并清洗非关联连续谱发射（如来自银河系者）的问题。我们将这些考量应用于Planck数据与BOSS类星体的交叉相关，以确定2 < z < 3.2范围内的CII。具有少数波段的强度映射巡天在处理前景和避免关联连续谱发射偏置方面面临独特挑战。我们展示未来多波段强度映射巡天如何通过交叉相关分离谱线与连续谱发射。
引用
@article{arxiv.1812.06223,
title = {Intensity Mapping in the Presence of Foregrounds and Correlated Continuum Emission},
author = {E. R. Switzer and C. J. Anderson and A. R. Pullen and S. Yang},
journal= {arXiv preprint arXiv:1812.06223},
year = {2019}
}
备注
19 pages, 16 figures, Submitted ApJ