非均匀吸收体与推导列密度

我们研究了从吸收线推导列密度对吸收体中离子空间分布的依赖性。特别是，我们检讨了吸收体对背景源的四种覆盖方式：熟悉的均匀局部分覆盖(HPC)，以及三种参数化非均匀覆盖的函数形式：幂律、椭圆四象限和高斯分布。我们计算了来自非均匀覆盖模型得到的残余线强度，然后将这些强度作为“观测到”的量来计算光学厚度和覆盖因子，假设为HPC。我们发现，只要输入分布中不包含空间狭窄的“尖峰”，则得到的空间平均光学厚度与输入分布的平均光学厚度相符(在常数因子$\lesssim 1.5$以内)。此类尖峰(在小范围覆盖区域上表现出极大光学厚度)会显著影响吸收体中的平均光学厚度，但对观测到的线强度影响甚微。我们还研究了反向方法：我们以HPC作为假设的物理模型，然后通过双线分析推断非均匀覆盖模型的参数。同样，得到的平均光学厚度与输入分布对应的量相符。最后，我们构建了一个更真实的二维光学厚度分布，基于吸收云的随机分布，并用该分布计算观测到的线强度。应用于这些线强度的双线分析显示，我们四种简单解析函数都能准确估计真实的平均光学厚度，而幂律对初始分布的最佳近似。