钇铁石榴石薄膜中增强的低温阻尼
介观与纳米尺度物理
2017-05-17 v1
摘要
我们报告了通过离轴溅射生长的15纳米厚钇铁石榴石（YIG）薄膜的铁磁共振（FMR）频率和温度依赖性的测量结果。尽管在室温下FMR线宽很窄（对应于阻尼系数 = (9.0 0.2) ），与类似厚度的高质量YIG薄膜的先前结果相当，但在低温下线宽强烈增加，增加了近30倍。这种增加不能解释为由于样品界面处缺陷引起的双磁子散射。我们认为，低温线宽的增加是由于先前在块状YIG样品中研究过的杂质弛豫机制。我们建议，低温线宽是指导薄膜生长工艺优化的一个有用品质因数，因为它是杂质的特别敏感的指示器。
引用
@article{arxiv.1612.01954,
title = {Increased low-temperature damping in yttrium iron garnet thin films},
author = {C. L. Jermain and S. V. Aradhya and J. T. Brangham and M. R. Page and N. D. Reynolds and P. C. Hammel and R. A. Buhrman and F. Y. Yang and D. C. Ralph},
journal= {arXiv preprint arXiv:1612.01954},
year = {2017}
}
备注
14 pages, 5 figures