采用新参考样本法的inclusive希格斯伴随产生截面测量
高能物理 - 实验
2020-02-20 v2
摘要
精确测定希格斯伴随产生（Higgsstrahlung）截面是未来正负电子对撞机的主要目标之一。它允许对希格斯玻色子总宽度进行唯一不依赖于衰变模型的测量。当前结果使用反冲质量形状法。该技术可应用于Z玻色子衰变为缪子、电子以及（有所保留地）夸克的希格斯伴随产生事件。此前分析中未使用Z玻色子衰变为陶子和中微子的希格斯伴随产生事件所构建的样本。我们在此提出一种新方法，即参考样本法。它将反冲质量法推广至也可用于陶子与中微子样本。在 =250 GeV、积分亮度为250 下，该推广有望通过ILC两种极化情形各自以2.1-2.2%的不确定度对inclusive希格斯伴随产生截面进行不依赖于模型的测定。这相较于仅应用新方法而无额外数据收集的准确性提高了20-30%。
引用
@article{arxiv.2002.06371,
title = {Inclusive Higgsstrahlung cross section measurements with the new reference sample method},
author = {Jonas Kunath and Jean-Claude Brient},
journal= {arXiv preprint arXiv:2002.06371},
year = {2020}
}
备注
9 pages, 3 figures, 3 tables. Talk presented at the International Workshop on Future Linear Colliders (LCWS2019), Sendai, Japan, 28 October-1 November, 2019. C19-10-28. References updated