铜在动态压缩过程中电阻率演化的原位测量

我们报告了一种新颖的实验方法，用于在利用斜压压-bar进行动态压缩时，对T2铜电阻率变化进行原位测量。仔细考虑了绝热温度升和试样形变对电阻的影响，这使我们能够隔离微结构变化（如位错演化、缺陷生成和晶格畸变）的贡献。后者允许实时跟踪应变与电阻率之间的关系。实验发现也由分子动力学仿真补充，这些仿真提供了动态加载下微结构演化过程的细节。迄今为止，几乎没有对动态变形期间电阻率变化进行原位测量，这一工作建立了电阻率-应变之间的直接联系，其对理解塑性变形及其工业应用指导具有重要意义。