利用瑞利散射对纳米颗粒进行原位表征
化学物理
2017-03-01 v1 原子与分子团簇
光学
摘要
我们报告了一项理论分析，表明瑞利散射可用于监测电弧放电条件下纳米颗粒的生长。我们通过结合气-粒混合物的光散射理论与纳米颗粒动态电子极化率的计算，计算了纳米颗粒的瑞利散射截面。我们发现，瑞利散射探头的分辨率足以在电弧外围合成条件的预期浓度下检测小至C60的纳米颗粒。更大的非对称纳米颗粒会产生更亮的信号，从而有可能通过散射强度的演变来追踪生长中的纳米颗粒群体的演化。可观测的光谱特征包括特征共振行为、形状依赖的去极化比以及质量依赖的线形。利用非侵入式激光探针直接观察生长早期阶段的纳米颗粒，应能深入了解颗粒形成机制，并可能导向更优控制的合成方案。
引用
@article{arxiv.1702.08544,
title = {In situ Characterization of Nanoparticles Using Rayleigh Scattering},
author = {Biswajit Santra and Mikhail N. Shneider and Roberto Car},
journal= {arXiv preprint arXiv:1702.08544},
year = {2017}
}