由辐射电弱破缺改进的LEP对最轻SUSY Higgs质量的下限及其实验后果

我们表明，当前LEP I对标准模型Higgs玻色子质量的下限（$M_H\gsim60\GeV$）同样适用于最小$SU(5)$和无标度翻转$SU(5)$超引力模型中最轻的Higgs玻色子（$h$）。即使对于LEP I的最终下限（$M_H\gsim70\GeV$），这一结果也将持续成立。我们证明，这种情况是Higgs扇区中退耦现象的结果，该现象由辐射电弱破缺驱动，且随着超粒子质量的增大而增强，因此它应该普遍适用于一大类超引力模型。在最小$SU(5)$超引力模型中，$m_h\gsim60\GeV$的一个后果是，从允许的参数空间中排除了“破坏者模式”（$\chi^0_2\to\chi^0_1 h$），这些模式原本会使在费米实验室的$p\bar p\to\chi^\pm_1\chi^0_2X$过程中非常有前景的三轻子信号变得不可观测。在该模型内，我们还获得了较轻的中性微子和chargino质量的更严格上限，即$m_{\chi^0_1}\lsim50\GeV$，$m_{\chi^0_2,\chi^\pm_1}\lsim100\GeV$。这应鼓励利用现有设施进行实验搜索。